Hoogfrequent

VNA calibration services

VSL levert in Nederland de meest nauwkeurige hoogfrequente metingen. Om hieraan te voldoen is de afdeling hoogfrequent opgedeeld in een aantal categorieën:

RF Vermogen

De faciliteit voor RF Vermogen bij VSL beschikt over de mogelijkheid om precisiemetingen te verrichten voor vermogenssensoren in een frequentiebereik van DC tot 50 GHz. Hier kunnen vermogens van 1 μW tot 10 mW gemeten worden waarbij absolute onzekerheden van 5.0E-3 tot 1.5E-2 behaald kunnen worden. De faciliteit is ontworpen om verschillende connectortypen te kunnen meten (2.4 mm, 3.5 mm, 2.92 mm, APC, en N-type connectoren). Typische metingen die in dit state-of-the-art laboratorium verricht worden zijn het bepalen van de kalibratie factor en het absolute vermogen van vermogenssensoren en signaal generatoren.

 

S-parameter metingen van coaxiaal componenten

VSL beschikt over een aantal hoogwaardige VNA-meetopstellingen waar gemeten kan worden over een frequentiebereik van 10 Hz tot 50 GHz. Hier kunnen onder andere kalibratiekits en verzwakkers maar ook andere VNA’s gekalibreerd worden door het meten van reflectie- en transmissie parameters (S-parameters). Ook kalibraties van apparaten met meer dan twee poorten zijn hier mogelijk, zogenaamd multi-port componenten. S-parameter metingen worden aangeboden voor verschillende connectoren (2.4 mm, 3.5 mm, 2.92 mm, APC, en N-type). Voor meer informatie over de onzekerheden die we bij VSL kunnen bereiken, zie onze RvA accreditatie K999.

 

S-parameter metingen van on-wafer componenten

VSL beschikt over state-of-the-art faciliteiten voor het meten en karakteriseren van elektrische eigenschappen van ‘on-wafer’ componenten tot 110 GHz. Onze ‘on-wafer’ metingen worden uitgevoerd met VSL’s volledig automatische probing systeem, aangestuurd door onze eigen ontwikkelde autonome meetsoftware, waarmee we de meest nauwkeurige resultaten garanderen. Door gebruik van ons primaire referentie substraat garanderen we SI-herleidbaarheid voor S-parameter metingen tot 110 GHz, wat ondersteund wordt door een uitvoerige onzekerheidsanalyse. Wij denken graag met u mee over uw uitdagingen bij ‘on-wafer’ metingen.

 

S-parameter metingen bij cryogene temperaturen

VSL ondersteunt de technologische vooruitgang in de quantum productieketen met onze state-of-the-art opstelling voor RF karakterisatie bij temperaturen van 77 K en 4 K. We bieden gekalibreerde S-parameter metingen aan van quantumcomponenten en circuits uitgerust met 3.5 mm en 2.92 mm coaxiaal connectoren tot 40 GHz. Alle cryogene metingen zijn voorzien van een uitgebreide onzekerheidsanalyse.

 

HF verzwakking

VSL biedt RF-verzwakking kalibraties aan voor verzwakking standaarden op een aantal frequentiepunten, inclusief 50 MHz, 100 MHz en 1 GHz. Verzwakkingsmetingen tot 80 dB worden hier ondersteund met onzekerheden van maximaal 0,02 dB.

Proficiency testing

VSL heeft protocollen en artefacten beschikbaar voor het organiseren en uitvoeren van proficiency testen (volgens de EN ISO/IEC 17043:2010). Wij kunnen voor u een ronde organiseren voor een groep deelnemers, zoals een groep medewerkers, of een groep laboratoria. Daarnaast is VSL beschikbaar voor een proficiency test on demand, zodat u resultaten kunt krijgen wanneer u dat wil.

 

Lees meer op onze pagina over ringvergelijkingen.