VSL RF Excellence Workshop

Tijdens de VSL RF Excellence Workshop brengen we engineers, kwaliteitsmanagers en R&D-professionals samen om de praktische impact van RF-metingen en metrologie te verkennen.

Ontdek hoe je meetonzekerheid verkleint en hoe dit direct leidt tot betere prestaties in je productie- en testprocessen. Je krijgt inzicht in hoe betrouwbare metingen bijdragen aan hogere efficiëntie, lagere kosten en betere productkwaliteit.

Wat levert het jou op?

• Inzicht in het verminderen van meetonzekerheid in RF-metingen
• Concrete handvatten om meetresultaten betrouwbaarder te maken
• Vertaling van metrologie naar efficiëntie en kostenbesparing
• Praktische inzichten die je direct kunt toepassen in je eigen werkomgeving

Door beter grip te krijgen op je metingen kun je risico’s verminderen, audits met vertrouwen doorlopen en je processen aantoonbaar verbeteren.

Deelname is gratis, maar registratie is verplicht.

Programma

08:30    Inloop met koffie en

09:30    Opening
Fabienne van Booma, VSL

10:00    Autonomous on-wafer device characterization: a key enabler for next-generation chips
Faisal Mubarak, VSL

10:40    Beyond Calibration: Building Confidence in Advanced On-Wafer RF Measurements
Rana ElKashlan, IMEC

11:20    Koffiepauze

11:50    First Calibration and Measurement Results of a Novel Wafer-Level Single-Sweep 100 kHz-250 GHz System
Giovanni D’amore, Keysight Technologies

12:30    Lunch

13:25    Multi Harmonic Active Load Pull for High Power High Efficiency Transistor Characterisation.
Dr. Gijs van der Bent, TNO Radar Technology

14:05    Drift reduction for RF measurements in over-temperature tests
Dr. James Hibbert, FormFactor GmbH

14:45    Koffiepauze

15:00    Presentatie, naam spreker volgt nog

15:40    Afsluiting

16:00    Labtour + netwerkborrel

17:00    Eind